分析JSY-05介質(zhì)損耗測試儀的技術(shù)特點

一、引言

介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）和電容量（Cx）是評價高壓電力設(shè)備絕緣性能的重要參數(shù)。在發(fā)電廠、變電站及實驗室場景中，現(xiàn)場干擾電場、被試品多樣性及測試安全性對介質(zhì)損耗測試儀器提出了較高要求。JSY-05系列介質(zhì)損耗測試儀采用一體化結(jié)構(gòu)與變頻抗干擾技術(shù)，適用于多種接線方式與被試品類型。本文基于其技術(shù)指標(biāo)與功能配置，對該系列儀器的技術(shù)特點進行分析，供電力設(shè)備檢測技術(shù)人員參考。

二、整機結(jié)構(gòu)與抗干擾原理

JSY-05系列儀器采用一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)部集成介質(zhì)損耗電橋、變頻調(diào)壓電源、升壓變壓器及SF6高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測試高壓由內(nèi)部逆變器產(chǎn)生并經(jīng)變壓器升壓后施加于被試品。

在抗干擾方面，儀器采用變頻法，頻率可選單頻（45Hz、50Hz、55Hz、60Hz、65Hz）及自動雙變頻組合（如45Hz/55Hz、47.5Hz/52.5Hz、55Hz/65Hz、57.5Hz/62.5Hz）。通過數(shù)字陷波技術(shù)，有效避開工頻電場及其諧波干擾，適用于強電場環(huán)境下的現(xiàn)場測試。同時，儀器支持發(fā)電機供電（需零線接地），滿足全部停電后現(xiàn)場檢測的電源條件。

三、測量范圍與精度指標(biāo)

介質(zhì)損耗與電容量

●   測量范圍：tgδ無限制；Cx測量范圍為15pF～300nF，覆蓋從套管、電流互感器到電容式電壓互感器（CVT）、變壓器套管等多種電力設(shè)備。

●   測量精度：

◆   Δtgδ：±（讀數(shù)×1.0% + 0.040%）

◆   ΔCx：±（讀數(shù)×1.0% + 1.00pF）

該精度水平可滿足對絕緣狀態(tài)變化進行趨勢分析與閾值判斷的要求。

高壓輸出能力

高壓輸出范圍為0.5kV～10kV，步進值0.1kV，大輸出電流200mA，容量2000VA。在不同測試電壓下，可承受的被試品總電容量如下：

●   10kV時，四通道并聯(lián)電容不大于60nF

●   5kV時，四通道并聯(lián)電容不大于150nF

●   1kV時，四通道并聯(lián)電容不大于300nF

LCR與CVT擴展功能

●   LCR測量：可自動測量電感、電容、電阻及角度，電感測量范圍大于20H（2kV），電阻大于10kΩ（2kV），精度為1%，角度分辨率0.01°。

●   CVT變比測試：變比測量范圍100～10000，精度3%，分辨率0.01。該功能可在不拆除高壓引線的情況下，對CVT的C1、C2進行介損與電容值測試，并支持變比與電壓角差測量。

四、功能配置與操作便利性

多樣化接線方式

儀器支持內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種測試模式。在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓正接法下，可實現(xiàn)高于10kV的介質(zhì)損耗測試，滿足特殊高壓設(shè)備的檢測需求。

多通道同步測試

在正接法接線條件下，四個被試品電容總值不超過單個被試品大測試電容值時，儀器可同時測試四個被試品的介質(zhì)損耗值，適用于批量設(shè)備篩選或多工位檢測場景。

CVT不拆線測試

針對電容式電壓互感器，儀器支持在不拆除高壓引線的情況下完成C1、C2的介損與電容值測試，并可通過反接屏蔽法測量CVT上端CO的介損與電容值。C1與C2可同時測試，提升現(xiàn)場作業(yè)效率。

人機交互與數(shù)據(jù)管理

●   顯示與操作：配備7吋觸控式彩色液晶屏，全中文操作界面，支持觸摸操作。

●   數(shù)據(jù)存儲：內(nèi)置日歷芯片與大容量存儲器，可保存100組檢測結(jié)果，按時間順序歸檔，支持歷史記錄查看、打印輸出及U盤數(shù)據(jù)存儲。

●   數(shù)據(jù)傳輸：搭載藍牙模塊，支持藍牙數(shù)據(jù)傳輸，協(xié)議符合相關(guān)技術(shù)規(guī)范要求，便于數(shù)據(jù)上送與集中管理。